Quantification par diffraction X

Le Freeware Fullprof permet de quantifier les
éléments cristallins présents sur un spectre de diffraction X.

Un spectre de diffraction peut être obtenu grâce un diffractomètre de rayon X sur un échantillon de poudre préalablement préparé (aciers, ceramiques, cristaux...).

La nature des différents éléments cristallisés présents dans l'échantillon est détectable à l'aide d'un logiciel de recherche de phases cristallines tel que Diffract AT

Le programme Fullprof permet, après un paramètrage adéquat, d'effectuer un affinement de Rietveld sur le spectre mesuré et d'obtenir des informations très précises sur l'échantillon analysé. (paramètres de maille, composition quantitative des phases cristallines présentes....)

Ce type d'équipement facilite le suivi et l'optimisation des procédés de fabrication tel que la cémentation des aciers, le frittage des céramiques ou la synthèse de cristaux.